彼奧德技術總監(jiān)儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司總經(jīng)理楊正紅先生，楊正紅先生作為中國代表團出席第56屆ISO/TC24/SC4標準化會議，作為中國顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標準化技術委員會委員(sac/tc168)，參加中國代表團并出席本次會議，代表中國參加：

第3工作組(wg3,孔徑分布和孔隙率)

第8工作組(wg8,圖像法粒度分析)

第14工作組(wg14,超聲法粒度分析)

第17工作組(wg17,zeta電位測定方法)

等相關領域的標準討論和修訂。

楊正紅先生成為iso/tc24/sc4注冊會員 

      楊正紅先生在德國參加規(guī)模大的粉體機械加工及分析技術展(powtech 2019)之后，前往奧地利參加iso會議。

     會議期間，楊正紅先生與iso官員dr.matthias thommes教授(埃爾朗根-紐倫堡大學,fau,圖左)和dr.andrei dukhin(美國分散技術公司ceo,圖左右)進行了學術交流，并就對中國用戶的超聲粒度分析應用支持達成一致。